Prova gratis

Upphandlingar

UpphandlingarAvtal som löper utVinnare

Marknaden

KöpareLeverantörerBranscher

Anbudsläget

PriserOm datan och oss
TilldeladPå engelskaTilldelningsbeslut · publicerad 5 okt 2026

SEM

Chalmers Tekniska Högskola Aktiebolag, Göteborg

Antal anbud
3
Avtalsvärde
6,9 mkr
Avtalstid
2 år
Förfarande
Öppet förfarande
Plats
Västra Götalands län
Bransch
Laboratorie- och mätutrustning38511100

Konkurrens

Låg ≈ 1,5 anbud

32 liknande tilldelningar inom laboratorie- och mätutrustning, CPV 3851 de senaste tre åren.

Har vunnit hos köparen förut

Typiskt värde

4,3 mkr

Median per avtal i kategorin. Köparens tidigare: 7,5 mkr.

  1. Tilldelat5 okt 2026
  2. I dag4 nov 2026
  3. Ny annons väntas≈ 28 jan 2028
  4. Avtalet slutar28 aug 2028

Avtalet löper ut 28 aug 2028. En ny upphandling väntas runt 28 jan 2028.

Uppskattningen förutsätter att eventuella förlängningsoptioner inte används.

Tilldelat till

1 leverantör
LeverantörOrg.nrStorlek
Carl Zeiss AB556035-3608Stort företag

Konkurrensbild

Laboratorie- och mätutrustning, CPV 3851, hela Sverige, senaste tre åren

3 anbud lämnades. Liknande upphandlingar får i snitt 1,5.

Underlag: 32 tilldelningar som anger antal anbud. Beräknat av Anbudsläget från TED.

Antal anbud per tilldelning
Anbud i snitt
1,5
Fick bara ett anbud
69 %
Medianvärde per avtal
4,3 mkr
Vanns av små och medelstora
75 %

Köparens tidigare avtal i samma område

2 senaste
AvtalVinnareAnbudVärdeTilldelat
Atomic Force Microscope (AFM)Oxford Instruments GmbH23,3 mkr9 okt 2026
Svepelektronmikroskop (Göteborg)Ej angiven–7,5 mkr17 nov 2023

Troliga konkurrenter

Flest vinster inom laboratorie- och mätutrustning, CPV 3851
Pro

Vilka ni troligen möter

De 8 leverantörer som vunnit flest avtal inom laboratorie- och mätutrustning, CPV 3851 de senaste tre åren, med antal vinster och värde.

Prova Pro gratis14 dagar, inget kort
Konkurrensen i just Västra Götalands län, jämfört med hela landetProva Pro gratis

Beskrivning

Procurement of a high-end, user-friendly and versatile scanning electron microscope (SEM) equipped with state-of-the-art energy dispersive x-ray (EDX) and electron backscattered diffraction (EBSD) detectors. The microscope must be able to perform excellent high-resolution imaging of any type of dry samples regardless of geometry, surface topography, conductivity and magnetic properties.